TP720紫外可見紅外分光光度計可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍，實現(xiàn)UV-VIS-NIR波段連續(xù)掃描。其應用領域廣泛，可測量固體／液體樣品在紫外-可見-近紅外范圍內(nèi)的特征吸收；可研究玻璃鍍膜樣品吸收／透射或反射光譜；可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區(qū)的吸收譜圖、還可測定核酸／蛋白等物質(zhì)的含量或檢測酶的活性等等，適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等等行業(yè)，是功能強勁的光譜分析儀器。

儀器特點：

1. 采用經(jīng)典的Czerny-Turner光學結(jié)構(gòu)，其結(jié)構(gòu)簡單、精度高、光譜分辨率良好；

2. TP720紫外可見紅外分光光度計采用雙光柵、雙接收器的設計，保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(qū)（UV-VIS-NIR）全波段的優(yōu)勢；

3. 接收器件均為進口器件，保證了儀器的高性能和穩(wěn)定度；

4. 儀器的控制（如光柵轉(zhuǎn)換、濾光片轉(zhuǎn)換、接收器轉(zhuǎn)換、波長掃描等）全部由計算機控制，接口為 USB2.0，儀器的連接簡單，極大的提高了通訊速率；

5. 狹縫寬度7檔可選，分別是（0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、3.0nm、5.0nm）。用戶可根據(jù)實際需要任意選擇；

6. 全中文操作軟件，功能選擇簡單、易懂。

規(guī)格參數(shù)：

工作波長范圍：190-2800nm

掃描方式：透過率、吸光度、反射率、能量

波長準確度：±0.5nm（UV/VIS）;±4nm（NIR）

波長重復性：0.3nm(UV/VIS)

掃描步距：0.01nm

光度范圍：0.300～2.5A

光度準確度：±0.3%T（0-100%T）

光度重復性：0.2%T

基線平直度：±0.008A（200-2500nm，預熱30分鐘后）

光譜帶寬：0.05nm-5nm

雜散光：≤0.2%T（220nm）

外形尺寸：830*600*260（mm）

軟件功能介紹：

本儀器工作軟件具有豐富的測試分析功能，可進行透過率、吸光度、能量、反射率測量。具有光譜掃描、定點測量、多波長測量的功能。

儀器成套性：

紫外可見近紅外分光光度計主機、USB數(shù)據(jù)線、石英比色皿、擋零塊、應用軟件、配套工具等。

用戶需自備計算機、打印機。

儀器可選附件：

TP-720紫外可見近紅外分光光度計反射附件。

TP-720紫外可見近紅外分光光度計漫反射附件。

TP-720紫外可見近紅外分光光度計固體樣品測量附件。